因?yàn)閷I(yè)
所以領(lǐng)先
將存儲(chǔ)器疊層在邏輯器件上看似比較合理,這可以實(shí)現(xiàn)更大規(guī)模的小型化、性能和成本效益。然而,看似符合邏輯的想法卻并非如此簡單。因?yàn)檫壿嬏幚砥魇沁壿嫾哟鎯?chǔ)配置或疊層中價(jià)值較高的器件,邏輯器件制造商在將他們的邏輯器件與存儲(chǔ)器件集成時(shí)遇到很大困難。他們預(yù)計(jì)購買晶圓形式的存儲(chǔ)器,但這并不是他們自身的產(chǎn)品,因此他們對(duì)存儲(chǔ)器件的測試良率、交互作用和質(zhì)量非常關(guān)心。此外,存儲(chǔ)器測試的專業(yè)性非常強(qiáng),最好留給存儲(chǔ)器制造商來完成,并可查看測試結(jié)果,以免遇到意想不到的復(fù)雜性和高成本。經(jīng)過前期幾次倒霉的嘗試,大多數(shù)想將邏輯與存儲(chǔ)器件集成在同一封裝體內(nèi)的邏輯器件制造商都在焦慮地尋找更好的方法。
PoP解決方案
PoP被認(rèn)為是更好的方案,可在同一封裝體內(nèi)集成邏輯和存儲(chǔ)器件(圖1)。PoP的底部可
容納邏輯器件,這種封裝的底面可以處理高引腳數(shù),要求器件采用微小的焊球間距。PoP的頂部可容納存儲(chǔ)器件或器件疊層。由于存儲(chǔ)器件一般要求引腳數(shù)較低,可以通過周邊陣列來處理,即在兩個(gè)封裝體互連的封裝邊緣處。封裝體的底部可以由邏輯器件制造商來制造和測試——每個(gè)都會(huì)影響他們核心的能力和技術(shù)。在一個(gè)封裝內(nèi)集成外來的芯片所造成的責(zé)任問題可以消除了,因?yàn)槊總€(gè)制造商只負(fù)責(zé)他們自己的封裝。終端用戶、手持設(shè)備制造商可以通過調(diào)配來獲利,即傳統(tǒng)的存儲(chǔ)器供應(yīng)商來供應(yīng)頂部封裝,邏輯器件供應(yīng)商來提供底部封裝。他們的配置也比較靈活,有多個(gè)存儲(chǔ)器貨源和封裝類型,可以與多個(gè)處理器封裝類型和供應(yīng)商相匹配。
如果邏輯器件和存儲(chǔ)器件都被集成到同一個(gè)疊層封裝中,那么手機(jī)制造商則無需再列出特定的器件組合方案。通過JEDEC的電學(xué)(取決于內(nèi)部存儲(chǔ)器的配置)和機(jī)械標(biāo)準(zhǔn),可以靈活地實(shí)現(xiàn)頂部存儲(chǔ)器件封裝與底部邏輯器件封裝的組合。底部封裝也遵守JEDEC的機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)。這樣的標(biāo)準(zhǔn)化允許制造商設(shè)計(jì)并生產(chǎn)能夠彼此兼容的產(chǎn)品,這也是為什么PoP終于成熟,并且在過去幾年內(nèi)投放市場進(jìn)行大量生產(chǎn)的一個(gè)基本原因。
今天,將PoP投入量產(chǎn)并不輕松,如同所有新型封裝技術(shù)一樣,還有很多障礙需要克服。為實(shí)現(xiàn)靈活的PoP結(jié)構(gòu),封裝疊層需要在PCB上同時(shí)塑模并再回流。此前并不容易實(shí)現(xiàn),需要手機(jī)制造商或者其電子制造服務(wù)提供商(基板組裝)進(jìn)行開發(fā)和優(yōu)化。兩個(gè)球柵陣列(BGA)封裝不但可以在相互的頂部進(jìn)行再回流,而且再回流兩個(gè)非常薄的、相對(duì)大些、窄間距的BGA在某種程度上也是新的挑戰(zhàn)。由于兩種封裝的間距都相對(duì)較窄(一般為0.65 mm的間距或者小于封裝體到封裝體之間的互連),再回流過程中每個(gè)封裝體能夠承受的翹曲量是非常有限的。以前,再回流過程中封裝翹曲并不是影響表面貼裝良率的主要考慮因素。
現(xiàn)在已經(jīng)可以度量并控制封裝翹曲。使問題進(jìn)一步復(fù)雜的原因是該結(jié)構(gòu)很難控制底部PoP的翹曲。底部PoP的外圍缺乏模塑密封材料,可以互連到頂部封裝(圖2)。因此,外圍由一個(gè)無支持的封裝基板組成。為了降低整個(gè)疊層PoP的高度,基板又被盡可能地做薄。因?yàn)榛鍟?huì)由于再回流的溫度而膨脹(所有PoP都在稍高的再回流溫度下采用無鉛焊球,而非共晶錫鉛焊球),這樣的配置會(huì)內(nèi)在的導(dǎo)致翹曲。封裝尺寸、器件尺寸、基板厚度和成分、模塑密封材料、裸片粘接厚度和材料全都在決定底部PoP翹曲中發(fā)揮重要作用。同樣地,必須對(duì)它們進(jìn)行優(yōu)化才可能生產(chǎn)出滿足表面組裝良率要求的底部PoP。一般而言,如果PoP疊層無法再回流到PCB上,就無法選擇重做,因此對(duì)于基板組裝時(shí)初次通過的良率要求是非常高的。
控制頂部封裝的翹曲也是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。頂部PoP內(nèi)部可疊層2至5片裸片。這些器件的尺寸各式各樣:一些器件尺寸相同或相近,需要在疊層裸片之間采用間隔夾層,這樣才能使引線鍵合到基板上。雖然再回流時(shí)觀察封裝的頂部會(huì)發(fā)現(xiàn)一般底部PoP的外形有些凹陷,然而頂部PoP的外形也會(huì)凹陷或凸起。盡管頂部PoP將模塑密封材料擴(kuò)展到封裝邊緣,通常產(chǎn)生的翹曲小于底部PoP,頂部PoP的翹曲必須經(jīng)常容忍底部封裝的翹曲或者保持繃緊狀態(tài)以允許底部封裝中更高的翹曲。封裝材料和厚度的優(yōu)化對(duì)于頂部PoP實(shí)現(xiàn)合格的表面組裝良率是非常重要的。再回流過程中以頂部和底部封裝為目標(biāo)的翹曲最初大約80μm。然而,隨著大量的調(diào)查,對(duì)于0.65 mm的封裝到封裝互連間距,一些顧客已經(jīng)將翹曲目標(biāo)降低到60μm。
PoP堆疊芯片清洗:PoP堆疊芯片/Sip系統(tǒng)級(jí)封裝在mm級(jí)別間距進(jìn)行焊接,助焊劑作用后留下的活性劑等吸濕性物質(zhì),較小的層間距如存有少量的吸濕性活性劑足以占據(jù)相對(duì)較大的芯片空間,影響芯片可靠性。要將有限的空間里將殘留物帶離清除,清洗劑需要具備較低的表面張力滲入層間芯片,達(dá)到將殘留帶離的目的。合明科技研發(fā)的清洗劑具有卓越的滲入能力,以確保芯片間殘留活性劑被徹底清除。
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